ZEISS INSPECT Optical 3D 2026

ในรุ่นที่ปล่อยก่อนหน้า เราได้เพิ่มเวิร์กโฟลว์ใหม่ที่เข้าใจง่ายมากขึ้นและมุ่งเน้นตามภารกิจสำหรับการตรวจสอบข้อบกพร่องบนพื้นผิว ซึ่งช่วยปลดล็อกศักยภาพใหม่ ๆ ในการทำงาน ไม่จำเป็นต้องเขียนโค้ด การกำหนดข้อบกพร่องเป็นองค์ประกอบช่วยให้สามารถตรวจสอบได้อีกมากมาย เรามีฟังก์ชันในการลบสิ่งที่ไม่ใช่ข้อบกพร่องตามเกณฑ์และตัวกรอง เส้นโค้งแสดงข้อบกพร่องบนพื้นผิวสำหรับพื้นที่ขนาดใหญ่ช่วยลดระยะเวลาในการคำนวณ

ในรุ่นที่ปล่อยก่อนหน้า มีการรองรับมาตรฐาน GD&T ล่าสุดจาก ISO และ ASME สำหรับทั้งโปรเจ็กต์ การปรับปรุงนี้ประกอบด้วยตัวกรองผู้เชี่ยวชาญ GD&T แบบบูรณาการใหม่สำหรับรูปทรงเรขาคณิตปฐมฐาน และการปรับปรุง PMI เช่น TED การจัดการข้อมูล และการแยกค่าดาตัม

ต้องการกำหนดแท็กที่มีเกณฑ์พิเศษไว้ล่วงหน้าหรือไม่ ในรุ่นที่ปล่อยก่อนหน้า การทำงานเหล่านี้ง่ายยิ่งขึ้นกว่าเดิม องค์ประกอบถูกเพิ่มหรือลบออกจากแท็กตามพารามิเตอร์ ทำให้สามารถตรวจสอบย้อนกลับได้ สามารถกรองได้อย่างง่ายดาย เช่น ตามชื่อ ตามช่วง หรือสถานะค่าความคลาดเคลื่อน

ในรุ่นที่ปล่อยก่อนหน้า คลัสเตอร์ได้รับการปรับให้เป็นแบบพารามิเตอร์ และสามารถแก้ไขคลัสเตอร์เฉพาะได้ คลัสเตอร์เหล่านี้จะแสดงอยู่ใน Explorer ภายใต้หมวดหมู่เฉพาะของตนเอง รับประโยชน์จากความสามารถในการตรวจสอบย้อนกลับอย่างสมบูรณ์ของคลัสเตอร์แบบพารามิเตอร์

โปรเจ็กต์เดียวสามารถจัดการข้อมูลจากเซนเซอร์หลายตัวได้ ตัวอย่างเช่น ทั้งเซนเซอร์ ATOS และเซนเซอร์เลเซอร์สามารถเก็บข้อมูลในโปรเจ็กต์เดียวกันและสร้างโครงตาข่ายเดียวกันได้ เป็นต้น นอกจากนี้ ScanBox Series 8 และเซลล์หุ่นยนต์คู่รุ่นอื่น ๆ ยังสามารถทำงานผ่านคอมพิวเตอร์เพียงเครื่องเดียวได้ โดยโปรเจ็กต์ทั้งหมดสามารถดำเนินการจากเครื่องเดียว ซึ่งช่วยลดระยะเวลารอบการทำงานลงอย่างมาก

ในรุ่นที่ปล่อยก่อนหน้า ซอฟต์แวร์ได้รับการปรับปรุงทั้งในด้านความเร็วและฟังก์ชันของการเขียนสคริปต์อย่างมาก ตัวอย่างเช่น มีการเพิ่มแผนภาพการเขียนสคริปต์ และสามารถนำเข้าไลบรารีภายนอกเพื่อสร้างกราฟผลลัพธ์ในแบบที่กำหนดเอง

รุ่นปีนี้มีการกำหนดหมายเลขการตรวจสอบพิกัดความเผื่อโดยอัตโนมัติ รับตัวกรอง GD&T เช่น โปรไฟล์และวิธีการกรองตามพื้นที่ตาม ISO 16610 ซึ่งทำงานร่วมกับข้อมูลเชิงออปติคอล (เมช) และเชิงสัมผัส (จุดคลาวด์)

ปรับแต่งซอฟต์แวร์ตามความต้องการของคุณและปรับแต่ง ZEISS INSPECT ให้เหมาะสมด้วยแอป เรานำเสนอแอปใหม่ ๆ ที่ได้รับการพัฒนาอย่างต่อเนื่อง และความเป็นไปได้ในการพัฒนาแอปของตัวเองด้วยเครื่องมือหลายอย่าง เช่น ตัวแก้ไขแอป หรือเอกสารบันทึกในหน้า ZEISS GitHub

รุ่นนี้รวมถึงแอป Autosurfacing เพื่อแปลงข้อมูลการสแกนเป็นแบบจำลอง CAD ที่แม่นยำ ซึ่งสามารถนำมาใช้สำหรับขั้นตอนกระบวนการเพิ่มเติม เช่น ข้อมูลเข้าสำหรับระบบ CAM การจำลอง และการสร้างต้นแบบ หรือการออกแบบผลิตภัณฑ์ที่มีรูปทรงอินทรีย์

ในรุ่นนี้เรามีการปรับปรุงอัลกอริทึมและการตรวจจับขอบที่มีประสิทธิภาพขึ้นที่ขอบที่คลุมเครือ การปรับปรุงความเสถียรและความสามารถในการทำซ้ำผ่านการคำนวณจุดขอบ

รุ่นนี้รวมถึงการกำจัดการเคลื่อนไหวของชิ้นส่วนที่เป็นไปได้ที่อาจทำให้การวัดผิดพลาดได้อย่างมีประสิทธิภาพ จุดอ้างอิงจะถูกติดตามในระหว่างการสแกน และการเคลื่อนไหวจะถูกชดเชย คุณสมบัตินี้ช่วยให้ขั้นตอนการวัดมีเสถียรภาพมากขึ้นและได้รับผลกระทบน้อยลง ซึ่งจะช่วยประหยัดเวลา เนื่องจากไม่จำเป็นต้องทำการวัดซ้ำเมื่อถูกรบกวน