ZEISS INSPECT X-Ray 2025

รุ่นสำหรับปีนี้นำเสนอความเป็นไปได้ใหม่ ๆ เพื่อการแบ่งข้อมูลดิจิทัลออกเป็นส่วน ๆ เพื่อการประมวลผลตามปริมาตร ทำให้สามารถตรวจสอบแต่ละองค์ประกอบที่มีค่าความคลาดเคลื่อนที่เฉพาะเจาะจง หรือการแบ่งชิ้นส่วนประกอบทางดิจิทัลออกเป็นแต่ละส่วนประกอบ รับข้อมูลคุณภาพที่แน่นอนสำหรับแต่ละองค์ประกอบที่สนใจ ไม่ว่าชิ้นส่วนนั้นจะซับซ้อนเพียงใดก็ตาม ไม่จำเป็นต้องถอดประกอบหรือทำลายชิ้นส่วนทางกายภาพแต่อย่างใด

รับการสร้างภาพปริมาตรที่มีประสิทธิภาพมากขึ้นด้วยการสร้างภาพส่วนปริมาตรหลายส่วนขนานควบคู่ไปกับองค์ประกอบอื่น ๆ เคลื่อนดูส่วนต่าง ๆ ในมุมมองที่แตกต่างกัน หรือรวมมุมมองภาคตัดเข้ากับการแสดงภาพ 3 มิติและตาราง

รุ่นนี้ยังรวมถึงการประเมินรูพรุนหรือสารฝังในแม้ว่าข้อมูลจะไม่สมบูรณ์แบบก็ตาม โดยใช้วิธีการตรวจจับข้อบกพร่องผ่านการเรียนรู้ของเครื่องด้วย ZADD Segmentation สำหรับการใช้งานที่ท้าทาย

ทำการตัดสินใจที่พื้นที่การผลิตได้ง่ายขึ้นผ่านการจัดเก็บข้อมูลที่เป็นส่วนกลาง เก็บข้อมูล นำมารวมกัน แล้ววิเคราะห์ผลลัพธ์จากการวัดแบบสัมผัส แบบออปติคอล แบบดำเนินการผู้ใช้ หรือการวัดด้วย CT อินเทอร์เฟซแบบเปิด (API) มอบความเป็นไปได้ในการเชื่อมต่อการทำงานเข้าในสภาพแวดล้อมของระบบของคุณ เพื่อให้ติดตามคุณภาพการผลิตได้อย่างมีประสิทธิภาพในเครื่องวัดทุกเครื่อง

ให้ความสามารถในการกำหนดตัวเลขให้กับการตรวจสอบจำนวนค่าความคลาดเคลื่อนโดยอัตโนมัติ นอกจากนี้ยังทำให้สามารถใช้ตัวกรอง GD&T ได้ วิธีการกรองโปรไฟล์และการกรองเชิงพื้นที่ตามมาตรฐาน ISO 16610 ช่วยรับประกันว่าเป็นไปตามบรรทัดฐาน ISO ที่เป็นปัจจุบัน ให้ความยืดหยุ่นในระดับใหม่ในแง่ของประเภทข้อมูล ซอฟต์แวร์ทำงานร่วมกับข้อมูลเมชและพ้อยต์คลาวด์