Skip to main content
Industrial Quality Solutions
จดหมายข่าว ไทย
ย้อนกลับ
Industrial Quality Solutions
การค้นหาที่แนะนำ
การค้นหายอดนิยม
SEM ระบบเริ่มต้น

ZEISS EVO

อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบครบวงจรที่รวมคุณภาพข้อมูลเข้ากับการทำงานที่ใช้งานง่าย

เครื่องมือในกลุ่มผลิตภัณฑ์ ZEISS EVO ผสมผสานอิเล็กตรอนไมโครสโคปประสิทธิภาพสูงเข้ากับการใช้งานง่ายและเป็นมิตรกับผู้ใช้ ซึ่งดึงดูดทั้งผู้เชี่ยวชาญและผู้ใช้งานระดับเริ่มต้น ZEISS EVO มาพร้อมกับตัวเลือกที่มีให้เลือกมากมาย จึงสามารถปรับแต่งให้เหมาะกับความต้องการของคุณได้อย่างแม่นยำ ไม่ว่าคุณจะทำงานในด้านวิทยาศาสตร์วัสดุหรือการประกันคุณภาพทางอุตสาหกรรมและการวิเคราะห์ข้อบกพร่อง

  • โซลูชันอเนกประสงค์ที่ใช้งานได้หลากหลาย
  • ความสามารถในการใช้งานที่ดีที่สุดในระดับเดียวกัน
  • คุณภาพของภาพที่ยอดเยี่ยม
  • การทำให้ขั้นตอนการทำงานเป็นแบบอัตโนมัติและความสมบูรณ์ของข้อมูล
ZEISS EVO
ติดต่อ

ZEISS EVO สำหรับอุตสาหกรรม

ยกระดับการตรวจสอบของคุณไปอีกขั้น

ZEISS EVO เป็นระบบSEM ระบบเริ่มต้นแบบดั้งเดิม ที่ใช้ไส้ทังสเตนหรือ LaB6 เหมาะสำหรับงานถ่ายภาพซ้ำ ๆ เช่น การวิเคราะห์วัสดุที่มีความละเอียดสูง โดยมีขั้นตอนการทำงานแบบอัตโนมัติและสนับสนุนเป็นส่วนใหญ่ ระบบนี้ให้ความยืดหยุ่นสำหรับขนาดโครงสร้างที่ไม่ซับซ้อนมาก

ขอบเขตการใช้งาน

  • การวิเคราะห์คุณภาพและการควบคุมคุณภาพ
  • การวิเคราะห์ข้อบกพร่องและการวิเคราะห์ผิวหน้าแตกหัก
  • การศึกษาวิเคราะห์วัสดุ
  • การตรวจสอบความสะอาด
  • การวิเคราะห์ทางสัณฐานวิทยาและทางเคมีของอนุภาคเพื่อให้เป็นไปตามมาตรฐาน ISO 16232 และ VDA 19 ส่วนที่ 1 & 2
  • การวิเคราะห์สารฝังในที่ไม่ใช่โลหะ 

ZEISS EVO: อิเล็กตรอนไมโครสโคปแบบครบวงจรที่รวมคุณภาพข้อมูลเข้ากับการทำงานที่ใช้งานง่าย

ยกระดับการตรวจสอบของคุณไปอีกขั้น ZEISS EVO เสนอเมนูตัวเลือกการปรับแต่งที่หลากหลายเพื่อตอบสนองความต้องการด้านราคาและประสิทธิภาพของคุณ เลือกความละเอียดที่ต้องการให้ตรงกับการใช้งานของคุณ และเลือกขนาดห้องจากสามขนาด

นอกจากนี้ คุณยังสามารถเลือกใช้สุญญากาศสูง ความดันแปรผัน หรือความดันบรรยากาศเพื่อให้เหมาะกับประเภทตัวอย่างของคุณได้อีกด้วย จากนั้นเลือกระหว่างเครื่องตรวจจับ SE, BSE, EDX, VP และ C2D เพื่อให้เหมาะกับการใช้งานของคุณ ด้วย ZEISS EVO คุณจะได้รับประโยชน์จากอิเล็กตรอนไมโครสโคปในราคาที่เอื้อมถึง

ตัวอย่างการใช้งาน

  • อิเล็กทรอนิกส์

    เศษและสิ่งปนเปื้อนจะเห็นได้ชัดบนพื้นผิวของวงจรรวม ภาพถ่ายด้วยเครื่องตรวจจับ SE ในสภาพสูญญากาศสูงที่ 10 kV

  • เซลล์เชื้อเพลิง

    เซลล์เชื้อเพลิงโดยทั่วไปประกอบด้วยเมมเบรนพอลิเมอร์อิเล็กโทรไลต์ที่วางอยู่ระหว่างอิเล็กโทรดแพลตตินัม ส่วนประกอบสำคัญเหล่านี้จำเป็นต้องถ่ายภาพที่แรงดันไฟฟ้าต่ำเพื่อให้ได้ข้อมูลรายละเอียดของพื้นผิวที่มีความละเอียดสูง ภาพตัดขวางด้วยแหล่งกำเนิด LaB6 (ซ้าย) และทังสเตน (ขวา) ที่ 3 kV แหล่งกำเนิด LaB6 ให้รายละเอียดพื้นผิวมากกว่าเมื่อใช้แรงดันไฟฟ้าต่ำ

  • เหล็กอ่อนเคลือบกัลวาไนซ์

    ภาพตัดขวางของเหล็กอ่อนเคลือบกัลวาไนซ์ที่ถ่ายโดยเครื่องตรวจจับ SE บน ZEISS EVO 15 ซ้าย: เรซินสำหรับยึดติด; กลาง: ชั้นสังกะสี; ขวา: เหล็กอ่อน

  • การวิเคราะห์วัสดุด้วยเอกซเรย์ สเปกโทรสโกปี (EDX)

    ภาพ BSE ของพื้นผิวที่เกิดการกัดกร่อนพร้อมแผนที่ EDS: โครเมียม, ตะกั่ว, ทองแดง, นิกเกิล, คาร์บอน, และออกซิเจน

  • การวิเคราะห์ข้อบกพร่องบนพื้นผิวของแบริ่งเม็ดกลม

    พื้นผิวของแบริ่งเม็ดกลมที่ถ่ายด้วยเครื่องตรวจจับ BSE เผยให้เห็นการแตกร้าวและการหลุดลอกของโครงสร้างพื้นผิว

  • ความสะอาดทางเทคนิค

    อนุภาคจากตัวกรองอนุภาค: การวิเคราะห์ความสะอาดทางเทคนิคและการควบคุมคุณภาพ

อิเล็กตรอนไมโครสโคป ZEISS EVO – 10 จุดเด่นใน 90 วินาที

  • บล็อกเนื้อหาภายนอก

    เครื่องเล่นวิดีโอถูกปิดกั้นเนื่องจากการกำหนดลักษณะเกี่ยวกับคุกกี้ของคุณ หากต้องการเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าและเล่นวิดีโอ โปรดคลิกปุ่มด้านล่างและให้ความยินยอมที่จะใช้เทคโนโลยีการติดตาม "เพื่อการทำงาน"
    เรียนรู้ว่าอิเล็กตรอนไมโครสโคป ZEISS EVO สนับสนุนงานตรวจสอบตามปกติและการวิเคราะห์ข้อบกพร่องของคุณในห้องปฏิบัติการคุณภาพและวัสดุอย่างไร ด้วยการถ่ายภาพที่ใช้งานง่ายแม้สำหรับผู้ใช้งานระดับเริ่มต้น จุดเด่นของ EVO: - การถ่ายภาพความละเอียดสูง - การทำงานที่มีประสิทธิภาพ - การวิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมี - ชิ้นงานขนาดใหญ่ - การเก็บภาพพื้นที่ขนาดใหญ่ - ตัวอย่างที่ไม่นำไฟฟ้า - การวิเคราะห์อนุภาคด้วย EDX - การวัดแบบอัตโนมัติ - การแบ่งส่วนภาพอย่างอัจฉริยะ - ความสัมพันธ์และการแชร์ภาพ

การใช้งานเพิ่มเติมสำหรับอุตสาหกรรม:

  • การวิเคราะห์เฟส อนุภาค และรอยเชื่อม
  • การตรวจสอบส่วนประกอบอิเล็กทรอนิกส์ วงจรรวม อุปกรณ์ MEMS และเซลล์แสงอาทิตย์ด้วยสายตา
  • การตรวจสอบพื้นผิวและโครงสร้างผลึกของลวดทองแดง
  • การตรวจสอบการกัดกร่อนของโลหะ
  • การวิเคราะห์เฟสระหว่างโลหะและการเปลี่ยนเฟส
  • การถ่ายภาพและการวิเคราะห์รอยแตกขนาดเล็กและความแข็งแรงของการแตกหัก
  • การตรวจสอบสารเคลือบและวัสดุคอมโพสิต
  • การตรวจสอบรอยเชื่อมและบริเวณที่ได้รับผลกระทบจากความร้อน

ด้วย ZEISS EVO เราจึงสามารถหาเข็มในกองหญ้าได้

Johannes Bachmann ผู้เชี่ยวชาญด้านการวิเคราะห์วัสดุที่ INNIO Group ดาวน์โหลดแผ่นพับและอ่านเรื่องราวทั้งหมด

การหาเข็มในกองฟาง

ความสะอาดทางเทคนิค: INNIO Group วิเคราะห์องค์ประกอบทางเคมีของอนุภาคสิ่งสกปรกที่เหลืออยู่โดยใช้โซลูชันจาก ZEISS

  • บล็อกเนื้อหาภายนอก

    เครื่องเล่นวิดีโอถูกปิดกั้นเนื่องจากการกำหนดลักษณะเกี่ยวกับคุกกี้ของคุณ หากต้องการเปลี่ยนแปลงการตั้งค่าและเล่นวิดีโอ โปรดคลิกปุ่มด้านล่างและให้ความยินยอมที่จะใช้เทคโนโลยีการติดตาม "เพื่อการทำงาน"

ผลลัพธ์ที่แม่นยำและเชื่อถือได้เป็นสิ่งสำคัญอย่างแน่นอน แต่การได้ผลลัพธ์อย่างรวดเร็วก็สำคัญเช่นกัน

กล่าวโดย Thomas Schaupp ผู้จัดการห้องปฏิบัติการของห้องปฏิบัติการวัสดุที่ได้รับการรับรอง SPC เรียนรู้ว่า ZEISS EVO และกล้องจุลทรรศน์แบบสัมพันธ์จาก ZEISS ช่วยให้ห้องปฏิบัติการทดสอบได้รับผลลัพธ์ที่รวดเร็วขึ้น 30% ได้อย่างไร ดาวน์โหลดแผ่นพับและอ่านเรื่องราวทั้งหมด

การใช้งานกล้องจุลทรรศน์สำหรับการประกันคุณภาพ:

ตัวอย่างลูกค้าและโบรชัวร์จากอุตสาหกรรมสำหรับอุตสาหกรรม

ติดต่อเรา

สนใจสำรวจผลิตภัณฑ์หรือบริการของเรามากขึ้นหรือไม่? เรายินดีให้ข้อมูลเพิ่มเติมหรือสาธิตการใช้งานแบบสด ทั้งทางออนไลน์หรือพบกันตัวต่อตัว

ร้านค้า ZEISS Metrology

สั่งซื้อหัวโพรบ อุปกรณ์การวัด และอื่น ๆ ได้อย่างง่ายดาย

พอร์ทัล ZEISS Metrology

เข้าถึงระบบและบริการซอฟต์แวร์ทั้งหมดได้อย่างครบวงจร

สถาบันการเรียนรู้ ZEISS Metrology

การฝึกอบรมด้านการวัดที่ปรับให้เหมาะกับคุณ มีให้เลือกหลายรูปแบบ

คุณต้องการข้อมูลเพิ่มเติมหรือไม่?

ติดต่อเรา ผู้เชี่ยวชาญของเราจะติดต่อกลับโดยเร็วที่สุด

กำลังโหลดแบบฟอร์ม...

/ 4
ขั้นตอนต่อไป:
  • แบบสอบถามความสนใจ
  • ข้อมูลส่วนบุคคล
  • ข้อมูลบริษัท

หากคุณต้องการข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับการประมวลผลข้อมูลที่ ZEISS โปรดดูที่ประกาศความเป็นส่วนตัวของเรา

zeiss.co.th/data-protection/home.html

ผลิตภัณฑ์ที่เกี่ยวข้อง